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机译:考虑电源噪声影响的小延迟缺陷的伪功能测试
Feng Yuan; Xiao Liu; Qiang Xu;
机译:NIM-X:一种基于噪声指数模型的X填充技术,可克服电源开关噪声对路径延迟测试的影响
机译:在最大电源噪声影响下可识别布局的关键路径延迟测试
机译:对深亚微米器件中的延迟缺陷和噪声影响进行建模,测试和分析
机译:对深亚微米设备中的延迟缺陷和噪声影响进行建模,测试和分析。
机译:具有噪声扰动的延迟遗传调控网络的全球鲁棒电价稳定性
机译:考虑电源噪声影响的关键路径的布局感知伪功能测试
机译:延迟集成电路中功率下降效应的缺陷测试
机译:具有用于延迟锁定环路的电源布线的存储设备,可抵消电源噪声的影响
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